StellarNet 反射透射光譜測試系統介紹：

反射與透射光譜是功能優異的光學測量技術，可用於表徵薄膜、塗層、半導體材料及工程表面。通過分析光在樣品表面的反射行為或是穿過樣品的透射行為，科研人員與生產廠商能夠在不接觸、不損傷樣品的前提下，評估薄膜厚度、光學參數、塗層性能以及材料各項特性。

StellarNet 薄膜計量檢測系統集成高性能光譜儀、各類光學附件以及高級分析軟件，可實現快速無損檢測，適用於光學塗層表徵、半導體工藝監控、光伏材料、顯示技術以及前沿材料科學研究。

可對薄膜、濾光片、塗層、光纖、透鏡以及幾乎所有光學元件，測試百分透射率、光密度 (OD)、吸光度與反射率。

光學計量系統由微型光譜儀、光源以及計量附件（反射探頭或透射夾具等）組成。系統支持 190‑2500nm 光譜測量波段。分辨率優於 1nm，具備科研級高穩定光學性能與測量重復性。配套 SpectraWiz 移動端應用，同時支持 SMART‑Control 全新操作交互界面。

光譜儀是檢測濾光片、薄膜及光學元件光學性能常用設備。可快速對幾乎任意光學元件完成百分透射率、光密度（OD）、吸光度、反射率測試，適用於研發實驗、質量檢測、生產管控，或是用於設備系統性能分析。

將 StellarNet 光纖光譜儀搭配反射探頭與光纖光源，採集樣品鏡面反射產生的正弦干涉條紋，即可計算得到薄膜厚度。可根據薄膜檢測或光學測試需求選用不同型號 StellarNet 光譜儀，儀器測量波段覆蓋 190‑2300nm。可選配雙通道架構、寬波段探測器或者高分辨率光學組件，滿足各類光學測試場景。

光纖樣品探頭由 SL1 鎢‑氪燈光源提供照明（其他光源選型見下文）。測試固體樣品顏色時，可採用 IC2 積分球替代光纖反射探頭，提升測量一致性。IC2 積分球同時可作為余弦接收器，優化輻照度測量結果。測試固體樣品時，需要配備 RS50 白色反射標準件，建立測量參考基準。

StellarNet 反射透射光譜測試系統選擇標準：

系統搭建示意圖：

濾光片透射測量系統（200‑1700nm），配置 SL5 紫外‑可見氘鹵燈光源、透射夾具、傳輸光纖、Y 型分光光纖、BLACK‑Comet + DWARF‑Star DUAL‑DSR 雙通道光譜儀系統

鏡面反射測量系統（280‑900nm），配置 SL1‑Filter 帶濾光片鹵鎢燈光源、R600 反射探頭、BLACK‑Comet 光譜儀

可見光濾光片透射測量系統（220‑1100nm），配置 SL1‑Filter 鹵鎢燈光源、透射夾具、F600 傳輸光纖