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| 品牌 | StellarNet | 價格區間 | 30萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
StellarSCOPE‑AM顯微光譜自動映射測量系統產品概述:
StellarNet 推出 StellarSCOPE™與 StellarSCOPE‑AM 顯微光譜系統,可將 StellarNet 光譜儀、光源光學耦合接入高性能研究級顯微鏡。系統可在微區測點完成拉曼、螢光、薄膜計量、CIELAB 色度檢測,同時採集樣品高清圖像、視頻以及延時錄像。其中 StellarSCOPE‑AM 搭載全新 StellarPro 光譜應用軟件,實現自動映射顯微掃描功能。
基於奧林巴斯研究級顯微鏡平台,標配 4×、10×、40× 物鏡
130 萬像素 CMOS 相機,支持圖像抓拍、視頻錄制、延時錄像
集成光開關,實現成像光路與光譜測量光路快速切換
配套 SMA 光纖接頭與各類適配安裝附件,匹配不同應用場景
StellarSCOPE‑AM 升級支持 Auto‑Mapping 自動映射顯微檢測,由 StellarPro 軟件驅動控制
拉曼及多光譜模式自動映射掃描新款 StellarSCOPE‑AM 搭載二維電動載物台,實現樣品 XY 方向平移式光譜測繪,具備亞微米級定位能力;可適配 96 孔微孔板,完成大批量樣品光譜數據自動化採集。

StellarPro 軟件集成借助 StellarPro 光譜應用軟件可完成設備測量控制與數據記錄。完整光譜數據採集,支持自定義波長選取,可生成二維光譜映射圖像,並輸出多種格式數據;示例應用為 785nm 拉曼光譜檢測。

XY 軸自動位置控制新款 StellarSCOPE‑AM 最大平移行程 100 mm × 100 mm,步進分辨率可達 0.15 μm。電動載物台兼具高速運動與高重復定位性能,非常適合多樣品分析以及高分辨率光譜圖像採集工作。

StellarSCOPE‑AM顯微光譜自動映射測量系統技術參數:
| 參數項目 | 規格 |
|---|---|
| 光學系統 | UIS2 通用無限遠校正光學系統;適配拉曼、螢光、色度、薄膜計量檢測 |
| 照明 | 內置透射科勒照明;LED 光源,光源可按光譜應用選配 |
| 調焦機構 | Z 向滾柱導軌‑齒輪齒條升降;每圈行程 36.8 mm;粗調旋鈕阻尼可調 |
| 電動 XY 載物台 | 掃描行程:100 mm × 120 mm微步分辨率:0.15 μm重復定位精度:<2 μm最大移動速度:85 mm/s接口:USB;配套 StellarPro 軟件,實現自動 Mapping 掃描測繪 |
| 物鏡 | 4×、10×、40×;工作距離分別 18.5 mm、10.6 mm、0.6 mm;支持選配其他物鏡 |
| 相機 | 130 萬像素;支持圖像抓拍、視頻、延時錄像 |
| 工作模式 | 一鍵切換相機成像模式 / 光譜儀測量模式 |
| 配套組件 | 光開關、全套 SMA 光學耦合配件,對接 StellarNet 光譜儀與光源 |